| 品牌：Phasics | 是否进口：否 | 产地：法国 |
| 加工定制：是 | 型号：SID4SWIRHR | 测量范围：900nm~1.7μm |
| 测量精度：±0.1% | 外形尺寸：100x55x63mm3mmmm | 用途：波前分析 |
| 标准装箱数：1pcspcs | 长度：100mmmm | 工作温度：0-40°,C°C |
| 重量：1KgKg | 产品特性：高采样率 |
SID4 SWIR HR波前分析仪，0.9-1.7 μm***采样分辨率
法国Phasics提供的SID4 SWIR HR红外高分辨率波前分析仪集成了InGaAs探测器和Phasics***的***技术——四波横向剪切设计而成的。由于SID4 SWIR HR近红外波前分析仪的***采样分辨率（160 x 128 phase pixels）和高灵敏度，可以***的测量900 nm到1.7μm的波前数据。短波红外波前传感器SID4 SWIR HR是一种***的设计方案，它的镜头可以应用于光通信，仪器检测，军事或夜视监测等领域。
SID4 SWIR HR***采样分辨率波前传感器的主要特点：
- 覆盖0.9-1.7μm短波红外波段
- 160 x 128的高相位采样分辨率
- 高感光灵敏度，可适用于低功率红外光源测试
SID4 SWIR HR近红外波前分析仪的主要应用：
- 激光，自适应光学
- 光学元件及光学系统计量
- 等离子体检测
