| 品牌：维尔克斯 | 是否进口：否 | 产地：国产 |
| 加工定制：否 | 型号：XPNIR-RTM-A1 | 测量范围：900nm~2500nm |
| 测量精度：±1% | 外形尺寸：1mmmm | 用途：透反射测量 |
| 标准装箱数：1pcspcs | 长度：1mmmm | 放大率：1 |
| 工作温度：0-40摄氏度°,C°C | 十字线：1 | 视野：1m@100mm@100m |
| 物镜直径：1mmmm | 序列号：1 | 重量：1KgKg |
| 规格：1 | 产品特性：透反射测量 |
近红外全角度透反射测量系统，900-2500nm，应用于材料测量领域
透反射光谱测量系统采用电控独立双轴设计，配备***步进电机，控制发射端和接收端的角度测量，角分辨率达0.001°，重复精度达0.05°。光谱范围覆盖900-2500nm，通过软件控制发射端和接收端的角度，实现快速的光谱测量，可用于透射/反射/散射/荧光/辐射等多种全角度模式的光谱测量。
样品材料中的很多成份，当光束以不同的角度入射时，得到的透射率和反射率会因入射角度的变化而变化。通过测量不同角度入射，可获取材料在正入射时所得不到的信息，确定材料的***敏感角度，可以为进一步的研究或设计测量仪器提供依据。
我们提供可见-近红外全角度透反射测量系统搭配光谱仪和其他测量附件，可以实现光源的不同角度入射和接收，适用于mm量级样品的透射光谱测量及反射光谱测量。透反射光谱测量系统采用电控独立双轴设计，配备***步进电机，控制发射端和接收端的角度测量，角分辨率达0.001°，重复精度达0.05°。光谱范围覆盖900-2500nm，通过软件控制发射端和接收端的角度，实现快速的光谱测量，可用于透射/反射/散射/荧光/辐射等多种全角度模式的光谱测量。
主要特点：
-全角度测量：反射和透射，可以实现-90°至90°范围测量，散射、荧光和辐射，可以实现0°至180°测量。
-多种角度测量模式：可以进行反射、透射、荧光、散射辐射等多种光谱测量
-***角度控制：***电机，角度精度达0.05°
-多维调节样品台：样品台由***三维位移台和三维旋转台组成，可实现样品的6维调节
技术参数：
-快速测量：快速对样品实现多种角度模式的光谱测量
-可选配件多样：根据客户的不同测量应用，可以选择不同的光源、滤光片、偏振片等配件完成不同的测量应用
多种全角度测量模式：
光谱角度测量模式：
反射式角度测量模式：镜面样品的反射夹角0°~180°，实现光谱的全角度测量。
透射式角度测量模式：入射角-90°~90°，接收角和入射角成180°（同一直线），实现透射光谱的全角度测量。
散射和荧光角度测量模式：入射角-90°~90°的任意角度上变化，接收角0°~360°范围内变化，实现散射和荧光光谱的全角度测量。
辐射角度测量模式：接收角0~360°范围内变化。
主要应用：
-纳米光学材料
-材料镀膜
-光子晶体器件
-传感器器件制备
-LED光源
-液晶显示
-角度相关材料分析
