| 品牌：Dataray | 是否进口：否 | 产地：美国 |
| 加工定制：是 | 型号：WinCamD-QD-1550 | 测量范围：400nm~1700nm |
| 测量精度：±0.1% | 外形尺寸：61x61x99mmmm | 用途：测量光斑 |
| 标准装箱数：1pcspcs | 长度：99mmmm | 工作温度：0-40度°,C°C |
| 视野：1m@100mm@100m | 物镜直径：1mmmm | 序列号：1 |
| 重量：0.407KgKg | 规格：1 | 产品特性：操作简单 |
针对近红外光谱范围的检测一般是采用InGaAs传感器来实现检测需求，在800nm以上的波段（900nm-1700nm），InGaAs传感器的响应灵敏度明显优于Si传感器，相比其他类型的探测器，InGaAs材料不需要低温冷却，而且小型化。目前维尔克斯光电所代理的以色列DUMA，美国Dataray等光斑分析诊断设备，以及市场上大部分针对机械视觉的代理如Artray，NIT，IRcam等厂家均有使用。
由维尔克斯代理的美国Dataray所生产的WinCamD-QD-1550***点红外光斑分析仪搭载了该类型传感器，利用CQD的转换特性，通过胶体***点膜层接收红外光，使硅基CMOS接收可探测分析的可见光波段，实现设备对于红外光束的分析诊断。并且可以实现对于光谱范围在400-1700 nm的测量，尤其是对于1550nm的灵敏度以及高分辨率的检测。
***点红外光斑分析仪所采用的CQD（CMOS Quantum Dot）传感器，是一种加入PbS（硫化铅）***点薄膜层，与传统硅基CMOS制造技术相兼容，CQD相机就相当于在CMOS前端添加了一层薄膜，CQD是一种尺寸仅为几纳米的半导体颗粒。它们可在溶液中合成，这意味着CQD薄膜可轻易沉积在一系列柔性或刚性衬底上。这种易于制造的特性使其成为******竞争力的***光电探测器材料。
至关重要的是，在对薄膜施加一定的电场或光压，它就会发出特定频率的光，当***点吸收光子时，它会生成一个电子空穴对，这些电子空穴对会重组以发射新的光子。这种发射的光子的颜色取决于***点的大小，更大的点发射的波长***，接近红色（620至750 nm）。较小的点发出较短的波长，更靠近光谱的紫色末端（380至450 nm）。这种“可调性”是***点所***的。在其他发光材料中，发射的光子的波长是该材料的固定属性，不受其尺寸的影响。
相比于砷化铟镓（InGaAs）传感器，CQD传感器具备更宽的光谱响应，更高的分辨率以及更小的像素尺寸，这使得CQD可以实现对于微米量级的光斑分析诊断。同时，相比于InGaAs传感器而言，可以更好的压缩***。
将***点涂覆到沉积了金触点的透明衬底上，可用于中红外探测（图片来源：ICFO）
1nm的***点，吸收蓝色光之后，激发出波长为500nm的光；2nm的***点，吸收蓝色光之后，激发出波长为560nm的光；3nm的***点，吸收蓝色光之后，激发出波长为630nm的光，因此只要控制好***点的尺寸，理论上发出的光就可以覆盖整个可见光区域。
CQD传感器技术采用单片集成方法，其中，基于***点的传感器使用成熟的***半导体沉积技术直接制造到CMOS读出集成电路（ROIC）上。采用固溶处理的胶体***点，以形成对SWIR和可见光波段均敏感的光电二极管阵列。
值得注意的是，相同像素的红外相机相比，CQD红外光斑分析仪便宜接近一半，且基本不受出口限制
