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| 品牌：PhaseView | 是否进口：否 | 产地：法国 |
| 加工定制：是 | 型号：BeamWave | 测量范围：1-50 |
| 测量精度：±5% | 外形尺寸：41×55×80mmmm | 用途：检测光束质量 |
| 标准装箱数：1pcspcs | 长度：41×55×80mmmm | 工作温度：常温°,C°C |
| 物镜直径：1mmmm | 序列号：1 | 重量：0.35KgKgKg |
| 规格：多种规格 | 产品特性：操作简单 |
主要供应PhaseView品牌下的BeamWave500，BeamWave1000，BeamWave1500，BeamWave FIR4种型号得光束质量测试仪，一次测量即可获得M2和发散角，无需移动导轨，测量速度快，分辨率清晰，该系列型号舍去了传统光束质量测试仪的复杂系统，没有笨重的移动部件和多余的附件，根据客户实际使用情况可以进行加工定制。
常见的光束质量测试仪一般通过Shack-Hartmann探测器对波前能量进行测量取样，这直接导致了测试速度慢，而且分辨率低下，测量M2时操作繁琐等等缺陷，而beamwave系列的光束质量测试仪完全没有这些缺点，它采用的是PhaseView公司的***波前传感技术，ccd探测器和波前探测器仅仅只需一次就能瞬间采样，直接得到M2的数据，整个过程无移动任何导轨部件的操作！单一设备直接分析M2银子，光斑传播，光束形貌，激光束参数等等参数。
***的通用性，也是BeamWave光束质量测试仪M2测试技术***的一项闪光点，连续和脉冲光束都能测量且脉冲测量自动触发，可应用在激光分析，眼科仪器，科研级光学***仪器的表面和波前等等领域
输入光束
激光质量分析仪 | M2Beam | M2Beam U3 |
技术工艺 | 刀口式扫描原理，应用Si探测器，InGaAs探测器和增强型InGaAs探测器 | USB 3.0接口 CMOS 2.4MP 内置过滤论 |
光谱响应（nm） | SI传感器：350-1100 InGaAs传感器：800-1800 Enhanced InGaAs 传感器：800-2700 | VIS-NIR：350-1600 UV-NIR：220-1350 |
激光功率范围 | Si：100 μW-1 W（带衰减片） InGaAs&UV：100 μW-5 mW HP：4 kW以下 | 10μW-100mW，内置滤光轮 HP：4 kW |
刀口数 | 7 | — |
光束尺寸 | 带透镜高达25mm直径（Si&UV版本） | |
束腰到透镜距离 | 2.0~2.5米 ***小2米 | |
-扫描装配附件
材质 | 铝 |
透镜焦距 | 300mm（在632.6nm时） |
透镜直径 | 25mm |
扫描次数 | 140 |
***小步进尺寸 | 100μm |
扫描长度 | 280mm |
-整机
重量 | 2.5kg |
尺寸 | 100×173×415 mm |
托架 | M6或1/4“固定 |
机械调整 | 水平角：±1.5°，垂直角：±1.5° |
电缆长度 | 2.5m |
