标题：波前探测器,波前分析仪应用

标题2：法国Phasics 波前传感器应用

标题3：波前分析仪在镜头测试，光学表面，成像，MTF函数测量，激光参数测量的应用

Phasics公司基于***的高分辨率波前传感技术，提供了***的测量和成像解决方案。

其相变测试能力在波前测量和四波横向剪切干涉仪分析中均处于***地位。对于每种应用，***级软件包均提供完整且相关的分析，以充分利用高分辨率波前测量。Phasics着眼于客户，着眼于满足所有需求；其强大的研发团队不断开发***功能，并根据客户要求定制标准配置。

法国Phasics SID4 波前传感器系列在激光参数测试上的应用（作为光斑分析仪）：

Phasics波前传感器可同时提供高分辨率的相位图和强度图。 它与SID4软件结合使用，可以对激光束进行***参数测试报告：波前像差，激光束参数，光束轮廓，M2光束质量参数等等参数。其紧凑的设计可以直接定位在激光光束的任何位置，因此它可以直接测量发散光束。紧凑且易于对准，无中继透镜的发散光束测量，光束轮廓。

对于大功率激光工程师

-设计并***的激光参数质量

-实验前检查激光

对于激光制造商：

-在研发或生产中进行快速***的光束质量控制（包括M2）

-SID4可用于400nm-1000nm 的激光的波前像差，强度分布，波前位相、泽尼克参数, 激光的M2值等参数进行实时的测量及参数输出。

适用于任何激光器

-连续到脉冲激光器

-UV到远红外

-宽带激光器，例如OPO激光器，飞秒激光器

法国Phasics SID4 波前相差仪特点：

-全光束特征(具有高分辨率的相位+强度)包括：像差（Zernike，Legendre),PSF，斯特列尔比，环绕能量,光束轮廓

-符合*** 11146标准的M2测量：一次性测得;适用于任何激光，包括飞秒激光.

-在激光的任何点均进行***测试：紧凑且易于对准，无需中继透镜即可进行发散光束测量，光束轮廓

-圆形或矩形瞳孔，多通道测试，倾斜光束

法国Phasics SID4 Element，SID4Bio，SID4-sC8波前分析仪在成像上的应用：

Phasics引入了光学显微镜的新形式：定量相位成像（QPI）。该解决方案包括一个类似于照相机的仪器，该仪器可与所有标准显微镜兼容，并具有适合许多应用的***软件套件。主要的原理是：每个样本在光传播时都会在光路上产生延迟。 该延迟量（相移或光程差）可通过相位技术测量，由此此获得图像，对于该图像，每个像素值是所测量的局部相移。像素值与物理厚度和样本局部折射率有关。

生命科学：细胞学，无单细胞成像，组织学等方面。 它可以轻松地对标本（例如活细胞，组织或任何其他半透明标本）进行无标签成像。 它提供了无伪影的定量相图像，可***测量有价值的参数：形态，干重，单个细胞的密度……它适用于癌症和***研究，***筛查，血液检查……智能仪器只需插入任何光学仪器即可。易于多模态的设置，例如相荧光组合。

热成像：Phasics提出的使用四波剪切干涉仪（TIQSI）解决方案的热成像技术使用高分辨率波前传感器，该传感器与任何具有自然宽带照明条件的显微镜兼容，并带有任何附加的激光模块。 热成像显微镜技术可以研究细胞生物学，物理学和化学领域的各种应用。所使用的热成像技术是菲涅耳研究所（G. Baffou）博士与Phasics SA合作开发的一种非侵入式热显微镜技术，能够将照明纳米结构产生的热量表征为纳米级。TIQSI基于对已知介质的热诱导折射率变化的测量，该测量是通过波前测量将其转换为温度变化值。

材料检查：折射率分析，波导测量，表面检查，LIDT评估等等方面。定量相位成像（QPI）技术非常适合用作半透明样品的折射率测量，具有准确且无损的***。 QPI技术可以在半透。明样品（例如玻璃）中提供具有亚纳米级精度的波导的***折射率分布。 对于LIDT技术，目标是检测材料表面特征中激光引起的***变化。 QWSLI技术的***在于可以进行原位表面分析。

法国Phasics Kaleo MTF测试仪在透镜质量控制以及光学表面测试的应用：

Phasics提供了***的镜头测量原理,无需中继透镜即可直接测量波前。利用使用光传播理论进行计算：提供波前像差和MTF。不使用目标就可以在任何频率下获得MTF。***波前采集便可提供***镜头质量参数：适用于任何频率和方位的MTF（调制传递函数），TWE（传输的波前误差）和像差（Zernike系数）的测试，可同时设置的多个波长进行测试。拥有严格的MTF和TWE的离轴波前分析，并且可以在测量平面上与Zemax设计的比较。

总结：波前探测主要是测量光束的相位变化，利用干涉的原理，得到干涉的图样对所测量的物体进行无损探测。可探测激光光束的所有参数，应用于成像方面：可用来做细胞组织的无荧光标记成像，可用于热成像以及材料的检查。此外还可以用于光学透镜质量控制，光学表面测试。