| 品牌：NEOARK | 是否进口：否 | 产地：日本 |
| 型号：Magneto-OpticalEffect | 重量：30KgKg | 加工定制：是 |
| 规格：μ-KerrEffectMeasurement | 主要下游平台：独立站 | 主要销售地区：东北亚 |
| 有可授权的自有品牌：是 | 尺寸：1000mm | 类型：磁光效应测量 |
| 适用范围：测量磁感应线法拉第效应 |
日本NEOARK代理——维尔克斯光电提供磁光克尔效应测量系统磁光测试仪。维尔克斯光电***代理NEOARK磁光测量系统，磁光克尔效应测量仪，Magneto-OpticalProduct。磁光测量主要包括磁光克尔效应测量（μ-KerrEffect）、磁滞回线测量和法拉第效应测量。
日本NEOARK公司成立于1976年，是一家***从事***仪器仪表、激光器的高科技公司，在磁光测试领域拥有雄厚的技术实力。Neoark公司产品产品范围包括：激光光源，激光测量（激光扫描仪、激光光谱分析仪、功率计、激光探测器），激光打标，位移测量仪，振动仪，激光微处理器，激光直接光刻系统，磁光/偏振特性测量等。其中以碘稳频激光器和磁光测量仪器***为出名。维尔克斯光电***代理NEOARK磁光测量仪器在中国市场的销售。
磁光效应测量系统Magneto-OpticalEffectMeasurementSystem
关键词：磁光克尔效应
磁滞回线测量：
极性克尔效应（垂直磁化）
纵向克尔效应（平面磁化）
克尔效应测量显微镜
低温
法拉第效应测量
垂直磁各向异性分析（磁场应用的角度依赖性）
在平面磁各向异性分析（磁场应用的角度依赖性）
在平面的倾斜角度评价
磁域观测显微镜（Kerr显微镜，磁光克尔效应显微镜）
应用：显微镜磁域观察
极克尔效应（垂直磁化）
纵向克尔效应（平面磁化）
低温
磁光效应测量系统
日本NEOARK代理——维尔克斯光电提供磁光克尔效应测量系统磁光测试仪
关键词：磁滞回线测量
晶圆
磁记忆
硬盘磁头
磁传感器
硬盘
垂直磁记录介质
软衬层（SUL）
头装置
热辅助磁记录（HAMR）硬盘媒体
μ-KerrEffectMeasurementAndMagneticDomainObservationSystem
BH-PI7892Series
μ-KerrEffectMeasurementSystem
BH-PI920Series
Features
MicroscopicLocalMagneticPropertyAnalysisbasedon
bothPolarandLongitudinalKerrEffect(Notsimultaneousmeasurement)
Suitableforsensitiveanalys***fμmsizemagneticpatternandmagneticthinfilm
Specification
MeasurementSubject:Magneto-OpticalKerrEffect
(PolarandLongitudinalKerrEffect)
MainFunction:KerrLoopMeasurement
LightSource:DiodeLaser
ProbeLightSpot:φ2-5μm
GeneratingMagneticField:Max.±10kOe(1T)
*Option:In-PlaneElectromagnet
μ-KerrEffectMeasurementandMagneticDomainObservationSystem
BH-PI7892Series
μ-KerrEffectMeasurementandMagneticDomainObservationSystem
BH-PI7892Series
LongitudinalKerrEffectMeasurementSystem
BH-618Series
FaradayEffectMeasurementSystem
BH-620Series
PerpendicularMagneticAn***tropyAnalysis
Features
Magneto-OpticalKerrEffectwithmotorizedrotatingElectromagnet
forMagneticFieldAppliedAngleDependenceAnalysis
In-PlaneMagneticAn***tropy&SkewAngleAnalysis
*MagneticFieldApplicationAngleDependenceAnalysis
(MagneticFieldApplicationDirection:In-PlaneDirection)
“ForWafer”PerpendicularMagneticLayerEvaluationSystem
Model:BH-810CPC25WF12
Features
SpeciallyDesignedforevaluationofPerpendicularMagneticLayerof12InchWafer
Specification
MainFunction:KerrLoopMeasurementandMappingMeasurement
(PolarKerrEffect)
LightSource:DiodeLaser
ProbeLightSpotSize:φ1mm(Typ.)
GeneratingMagneticField:Max.±25Oe(2.5T)
“ForWafer”In-PlaneMagneticLayerEvaluationSystem
Model:BH-618SK-12
“ForHardDisc”PerpendicularMagneticRecordingLayerEvaluationSystem
Model:BH-810CPC
“ForHardDisc”SoftUnderLayer(SUL)EvaluationSystem
Model:BH-618HS
Features:SpeciallyDesignedforevaluationofSoftUnderLayer(SUL)ofboth2.5inch
and3.5InchHardDisk
MagneticDomainObservationMicroscope
BH-786Series
Features
MagneticDomainObservationMicroscope(KerrMicroscope)withvariousoptional
magnificationandmagneticfield
Specification
ObservationSubject:Magneto-OpticalKerrEffect
(PolarandLongitudinalKerrEffect)
MainFunction:CCDCameraObservationandImageCapturing
LightSource:MercuryLamp
ObservationResolution:1μm(Typ.)withx50ObjectiveLens
ObservationArea:100x70μmwithx50ObjectiveLens
GeneratingMagneticField:>±10kOe(1T)
*Option:In-PlaneElectromagnetandOthers
日本NEOARK代理——维尔克斯光电提供磁光克尔效应测量系统磁光测试仪
LowTemperatureMagneticDomainObservationMicroscope
BH-7850Series
